| 한국세라믹기술원 |
현미경 |
공초점현미경(Confocal Microscope) |
형상 |
3차원 형상측정기 |
055-792-2551 |
| 한국전자기술연구원 |
카메라/영상처리장비 |
X-선/자외선/적외선카메라(X-ray, UV, IR Camera) |
2D X-ray 분석 |
X-선현미경(X-ray) |
031-789-7282 |
| 한국전자기술연구원 |
카메라/영상처리장비 |
X-선/자외선/적외선카메라(X-ray, UV, IR Camera) |
3D CT X-ray 분석 |
3D CT X-선현미경(X-ray) |
031-789-7282 |
| 한국전자기술연구원 |
현미경 |
전자현미원소분석기(Electron Probe Microscope Analyzer) |
EDS 분석 |
전자현미원소분석기(EDS) |
031-789-7282 |
| 한국전자기술연구원 |
장비소프트웨어 |
달리 분류되지 않는 장비 소프트웨어 |
EMC분석 |
고주파시뮬레이터(HFSS) |
031-789-7282 |
| 한국전자기술연구원 |
현미경 |
주사전자현미경(Scanning Electron Microscope) |
FIB 분석 |
집속이온빔(FIB) |
031-789-7282 |
| 한국전자기술연구원 |
재료물성시험장비 |
가속수명시험기(Accelerated Life Tester) |
HALT 시험(초가속수명시험) |
초가속수명시험기 |
031-789-7282 |
| 한국전자기술연구원 |
분광분석장비 |
자외/가시광/적외선분광광도계(Ultraviolet-Visible Near InfraRed Spectrophoto meter) |
ICP 분석 |
유도결합플라즈마방출분광기(ICP-OES) |
031-789-7282 |
| 한국전자기술연구원 |
재료물성시험장비 |
부식시험기(Corrosion Tester) |
가스부식시험 |
가스부식시험기 |
031-789-7282 |
| 한국전자기술연구원 |
환경조성형시설 |
진공/압력/밀폐시설(Vacuum/Pressure/Sealed Facilities) |
고온가압시험 |
고온가압시험기 |
031-789-7282 |
