| 한국과학기술연구원 특성분석 센터 |
분광분석장비 |
달리 분류되지 않는 분광분석장비 |
고에너지(MeV급) 이온 beam 활용분야중에서 헬륨이온을 주로 사용하여 박막이나 소재 표면층의 두께, 원소조성, 결정성에 관한 정보를 얻을 수 있는 분석장비 |
RBS(Rutherford Backscattering Spectrometry) |
02-958-5995 |
| 한국과학기술연구원 특성분석 센터 |
분광분석장비 |
달리 분류되지 않는 분광분석장비 |
입자 비행 시간을 측정하여 입자 속도 및 질량을 측정 |
TOF-ERD(Time of flight-Elastic recoil detection) |
02-958-5995 |
| 한국과학기술연구원 특성분석 센터 |
현미경 |
주사전자현미경(Scanning Electron Microscope) |
미세 구조 분석 |
FE-SEM(Field Emission Scanning Electron Microscope |
02-958-5990 |
| 한국과학기술연구원 특성분석 센터 |
분광분석장비 |
X-선광전자분광기(X-ray Photoelectron Spectroscopy, XPS) |
비침습적 방법의 미세구조 분석 |
Micro-CT |
02-958-5990 |
| 한국과학기술연구원 특성분석 센터 |
현미경 |
디지털현미경(Digital Microscope) |
이미지 분석 |
자동화 현미경(EVOS) |
02-958-7138 |
| 한국과학기술연구원 특성분석 센터 |
현미경 |
디지털현미경(Digital Microscope) |
이미지 분석 |
자동화 현미경(EVOS) |
02-958-7138 |
| 한국과학기술연구원 특성분석 센터 |
바이오제조/ 분석장비 |
달리 분류되지 않는 바이오제조/분석장비 |
바이오/생체시료/폴리머TEM 시편 분석 |
EM Sampling-바이오/폴리머 |
02-958-5990 |
| 한국과학기술연구원 특성분석 센터 |
반응/혼합/분쇄장비 |
시료절편기(Microtome) |
SEM분석 시편 전처리 |
IMS(Ion Milling sys.) |
02-958-6972 |
| 한국과학기술연구원 특성분석 센터 |
반응/혼합/분쇄장비 |
시료절편기(Microtome) |
TEM분석 시편 전처리 |
TEM Sampling-재료 |
02-958-6972 |
| 한국과학기술연구원 특성분석 센터 |
반응/혼합/분쇄장비 |
시료절편기(Microtome) |
|
FIB |
02-958-5547 |
