| 광학전자/영상장비 |
현미경 |
주사전자현미경(Scanning Electron Microscope) |
크기분석 |
주사전자현미경(SEM) |
042-865-3517 |
| 광학전자/영상장비 |
현미경 |
광학현미경(Optical Microscope) |
형광·인광 수명 분석 |
초고분해능 실시간 형광수명 영상현미경 |
042-865-3517 |
| 기계가공/시험장비 |
재료물성시험장비 |
특성평가시스템(Characteristics Evaluation System) :여러 가지 특성을 속적으로 시험, 분석 하는 장비 |
물질특성 분석 |
In-situ
나노분석시스템 |
042-865-3517 |
| 화합물전처리/분석장비 |
분광분석장비 |
핵자기공명분광기(Nuclear Magnetic Resonance Spectrometer) |
소재구조 및 화학적 특성 분석 |
핵자기공명분광기(NMR) |
042-865-3517 |
| 광학전자/영상장비 |
현미경 |
주사전자현미경(Scanning Electron Microscope) |
크기 및 형상 |
주사전자현미경(SEM) |
031-546-6000 |
| 광학전자/영상장비 |
현미경 |
투과전자현미경(Transmission Electron Microscope) |
크기 및 형상 |
투과전자현미경(TEM) |
031-546-6000 |
| 화합물전처리/분석장비 |
분광분석장비 |
자외/가시광/적외선분광광도계(Ultraviolet-Visible Near InfraRed Spectrophoto meter) |
투과율, 반사율 측정 |
자외/가시광/적외선분광광도계(UV/Vis/NIR) |
031-546-6000 |
| 화합물전처리/분석장비 |
분광분석장비 |
X-선광전자분광기(X-ray Photoelectron Spectroscopy, XPS) |
표면분석 |
X-선광전자분광기(XPS) |
031-546-6000 |
| 전기/전자장비 |
자기력발생/측정장비 |
자기력측정장비(Magnetometer) |
BH Loop 측정 |
B-H 측정기(7.5T) |
055-791-3548 |
| 전기/전자장비 |
측정시험장비 |
다기능임피던스측정시험장비(Multi-functional Impedance Test Equipment) |
LCR 측정 |
LCR 미터 |
055-791-3548 |
