| 광학전자/영상장비 |
현미경 |
주사전자현미경(Scanning Electron Microscope) |
3차원 가공 및 구조 성분의 입체적 분석 |
초점이온빔 주사전자현미경(Focused Ion Beam Scanning electron microscopy) |
063-219-8245 |
| 광학전자/영상장비 |
현미경 |
투과전자현미경(Transmission Electron Microscope) |
원자 수준의 정보 및 미세구조 분석 화학성분 분석 |
고분해능 분석투과 전자현미경(High Resolution-Transmission Electron Microscope) |
063-219-8245 |
| 광학전자/영상장비 |
현미경 |
주사전자현미경(Scanning Electron Microscope) |
3차원 미세구조 및 시편제조 |
극초저온 초점 이온빔 주사전자현미경( Cryo-Focused Ion Beam-Scanning Electron Microscope) |
063-219-8245 |
| 광학전자/영상장비 |
현미경 |
주사전자현미경(Scanning Electron Microscope) |
재료의 표면 관찰 |
초고분해능 주사전자현미경(XHR FE-Scanning Electron Microscopy) |
063-219-8245 |
| 광학전자/영상장비 |
현미경 |
주사전자현미경(Scanning Electron Microscope) |
복합소재의 표면관찰 |
전계방출 주사전자현미경(Field Emission Scanning Electron Microscope) |
063-219-8245 |
| 화합물전처리/분석장비 |
반응/혼합/분쇄장비 |
시료절편기(Microtome) |
초박편 시편제작 |
초박편절편기(Ultramicrotome) |
063-219-8245 |
| 물리적 측정장비 |
길이/ 위치측정장비 |
길이측정장비(Distance Measuring) |
TEM, SEM 단면 샘플 제작 |
TEM 시편 전처리 장비(TEM sample preparation sys.) |
063-219-8245 |
| 기계가공/시험장비 |
재료물성시험장비 |
초음파검사장비(Ultrasonic Examination Equipment) |
초음파를 이용한 비파괴검사 장비 |
3차원 초음파 비파괴측정장비(3D C-SCAN) |
063-219-8245 |
| 광학전자/영상장비 |
현미경 |
광학현미경(Optical Microscope) |
TEM 시편 준비시 정확한 두께의 측정 transmission mode를 이용한 빛의 투과도를 평가하여 샘플의 두께를 정확히 판단 |
광학현미경(Research DIC Reflection Microscope) |
063-219-8245 |
| 광학전자/영상장비 |
망원경 |
전파망원경(Radio Telescope) |
시편의 크기가 상대적으로 크고 분석해야하는 표면이 상대적으로 넓은 복합체의 표면분석 |
고속대면적고분해능 3D 홀로그래피(Reflection Digital Holographic Microscope) |
063-219-8245 |
