| 화합물전처리/분석장비 |
질량분석장비 |
액체크로마토그래피질량분석기(Liquid Chromatography-Mass Spectrometer) |
질량 분석 |
Tribrid Orbitrap Eclipse |
02-958-5920 |
| 화합물전처리/분석장비 |
분광분석장비 |
자외/가시광분광광도계(Ultraviolet-Visible Spectrophotometer) |
소재구조 및 화학적 특성 분석 |
600MHz 핵자기공명분광기(NMR) |
02-958-5965 |
| 기계가공/시험장비 |
재료물성시험장비 |
특성평가시험기(Characterization Tester) |
소재 강도, 탄성, 복원력 분석 |
Nano indenter |
02-958-5976 |
| 광학전자/영상장비 |
현미경 |
주사전자현미경(Scanning Electron Microscope) |
재료 내 표면 및 계면 원자층 물리, 화학성 성분 분석 |
AES(OJ) 전자분광기 |
02-958-5974 |
| 광학전자/영상장비 |
현미경 |
주사탐침현미경(Scanning Probe Microscope) |
미소조성(표면 및 내부) 크기 및 형상 |
AFM(Atomin force Microscope) |
02-958-5976 |
| 물리적 측정장비 |
표면특성측정장비 |
표면거칠기/미세구조측정장비(Surface Roughness/Micro Structure Measuring Equipment) |
미소조성(표면 및 내부) 크기 및 형상 |
AFM(Atomin force Microscope) |
02-958-5976 |
| 화합물전처리/분석장비 |
질량분석장비 |
이차이온질량분석기(Secondary Ion Mass Spectrometer) |
이차이온검출분석 |
이온 질량 분석기 (자기부채꼴 이차이온 질량분석기/Dynamic Secondary Ion Mass Spectrometry) |
02-958-5984 |
| 광학전자/영상장비 |
현미경 |
주사전자현미경(Scanning Electron Microscope) |
재료 내 표면 및 계면 원자층 물리, 화학성 성분 분석 |
전자탐침미소분석기(EPMA/Electron Probe Micro Analyzer) |
02-958-5540 |
| 광학전자/영상장비 |
현미경 |
주사전자현미경(Scanning Electron Microscope) |
재료 내 표면 및 계면 원자층 물리, 화학성 성분 분석 |
FE-SEM(Field Emission Scanning Electron Microscope / Inspect F |
02-958-5972 |
| 광학전자/영상장비 |
현미경 |
주사전자현미경(Scanning Electron Microscope) |
재료 내 표면 및 계면 원자층 물리, 화학성 성분 분석 |
FE-SEM(Field Emission Scanning Electron Microscope / Inspect F50 |
02-958-4944 |
