| 광학전자/영상장비 |
현미경 |
주사전자현미경(Scanning Electron Microscope) |
재료 내 표면 및 계면 원자층 물리, 화학성 성분 분석 |
FE-SEM(Field Emission Scanning Electron Microscope / Nova SEM |
02-958-5973 |
| 광학전자/영상장비 |
현미경 |
주사전자현미경(Scanning Electron Microscope) |
재료 내 표면 및 계면 원자층 물리, 화학성 성분 분석 |
FE-SEM(Field Emission Scanning Electron Microscope / Regulus8230 |
02-958-5973 |
| 광학전자/영상장비 |
현미경 |
주사전자현미경(Scanning Electron Microscope) |
재료 내 표면 및 계면 원자층 물리, 화학성 성분 분석 |
FE-SEM(Field Emission Scanning Electron Microscope / Teneo VS |
02-598-5972 |
| 광학전자/영상장비 |
현미경 |
투과전자현미경(Transmission Electron Microscope) |
크기 및 크기분포 |
투과전자현미경(TEM) - 바이오/폴리머 |
02-958-5987 |
| 물리적 측정장비 |
길이/ 위치측정장비 |
길이측정장비(Distance Measuring) |
크기 및 크기분포 |
투과전자현미경(TEM) - 바이오/폴리머 |
02-958-5987 |
| 광학전자/영상장비 |
현미경 |
투과전자현미경(Transmission Electron Microscope) |
크기 및 크기분포 |
투과전자현미경(TEM) - Talos |
02-958-4940 |
| 물리적 측정장비 |
길이/ 위치측정장비 |
길이측정장비(Distance Measuring) |
크기 및 크기분포 |
투과전자현미경(TEM) - Talos |
02-958-4940 |
| 광학전자/영상장비 |
현미경 |
투과전자현미경(Transmission Electron Microscope) |
크기 및 크기분포 |
투과전자현미경(TEM) - Tecnai |
02-958-5983 |
| 물리적 측정장비 |
길이/ 위치측정장비 |
길이측정장비(Distance Measuring) |
크기 및 크기분포 |
투과전자현미경(TEM) - Tecnai |
02-958-5983 |
| 광학전자/영상장비 |
현미경 |
투과전자현미경(Transmission Electron Microscope) |
크기 및 크기분포 |
투과전자현미경(TEM) - Titan |
02-958-5986 |
