| 화합물전처리/분석장비 |
분광분석장비 |
유도결합플라즈마원자방출분광기(Inductively Coupled Plasma Atomic EmissionSpectrometer) |
이미지 관찰, 조성 분석 |
유도결합플라즈마원자방출분석기(ICP-AES) |
054-279-6932 |
| 광학전자/영상장비 |
현미경 |
주사전자현미경(Scanning Electron Microscope) |
이미지 관찰, 조성 분석, 결정방위 분석 |
주사전자현미경(SEM/EDS/EBSD) |
054-279-6932 |
| 광학전자/영상장비 |
현미경 |
투과전자현미경(Transmission Electron Microscope) |
이미지 관찰, 조성 분석, 결정방위 분석 |
주사전자현미경(SEM/EDS/EBSD) |
054-279-6932 |
| 전기/전자장비 |
측정시험장비 |
달리 분류되지 않는 측정시험장비 |
이온 마이그레이션 시험 |
마이그레이션시험기 |
054-279-6932 |
| 기계가공/시험장비 |
재료물성시험장비 |
만능시험기(Universal Material Testing Machine) |
인장시험 R값 측정 |
고온인장시험기 |
054-279-6932 |
| 기계가공/시험장비 |
재료물성시험장비 |
만능시험기(Universal Material Testing Machine) |
인장시험 단면수축률 측정 |
인장시험기 |
054-279-6932 |
| 기계가공/시험장비 |
재료물성시험장비 |
만능시험기(Universal Material Testing Machine) |
인장시험편 단면적 측정 |
인장시험기 |
054-279-6932 |
| 화합물전처리/분석장비 |
입자분석장비 |
입도분석기(Particle Size Analyzer) |
입도분석 |
입도분석기 |
054-279-6932 |
| 화합물전처리/분석장비 |
입자분석장비 |
입도분석기(Particle Size Analyzer) |
입자크기 |
입도분석기 |
054-279-6932 |
| 화합물전처리/분석장비 |
분광분석장비 |
X-선회절분석기(X-ray Diffractometer, XRD) |
잔류응력 분석 |
X선 잔류응력 측정장치 |
054-279-6932 |
