| 기계가공/시험장비 |
반도체장비 |
프로브스테이션(Probe Station) |
전기적 성능측정 |
Probe Station |
063-219-0054 |
| 전기/전자장비 |
측정시험장비 |
전자파측정시험장비(Electromagnetic Wave Test Equipment) |
전자파 간섭/내성 |
EMI, EMS시험기 |
063-219-0054 |
| 물리적 측정장비 |
유체유량역학측정장비 |
점도계(Viscometer, Rheometer) |
점도측정 |
점도계 |
063-219-0054 |
| 물리적 측정장비 |
표면특성측정장비 |
표면장력/접촉각측정장비(Suface Tension/Contact Angle) |
접촉각 |
접촉각측정기 |
063-219-0054 |
| 물리적 측정장비 |
길이/ 위치측정장비 |
길이측정장비(Distance Measuring) |
투과도/두께 |
투과도측정기 |
063-219-0054 |
| 광학전자/영상장비 |
광파발생/측정장비 |
달리 분류되지 않는 광파발생/측정장비 |
표면분석 |
일함수측정기 |
063-219-0054 |
| 광학전자/영상장비 |
광파발생/측정장비 |
휘도계/조도계(Luminance Meter/Illuminance Meter) |
휘도/발광균일도 측정 |
면발광측정기 |
063-219-0054 |
| 광학전자/영상장비 |
광파발생/측정장비 |
휘도계/조도계(Luminance Meter/Illuminance Meter) |
휘도측정 |
휘도측정기 |
063-219-0054 |
| 광학전자/영상장비 |
현미경 |
공초점현미경(Confocal Microscope) |
CONFOCAL LASER 촬영 |
공초점레이저현미경 |
054-279-6932 |
| 광학전자/영상장비 |
현미경 |
광학현미경(Optical Microscope) |
F.G.S측정 |
이미지분석기 |
054-279-6932 |
