| 물리적 측정장비 |
길이/ 위치측정장비 |
위치측정장비(Position Measurement Equipment) |
두께측정 |
2D 표면측정기 |
063-219-0054 |
| 기계가공/시험장비 |
반도체장비 |
광학검사기(Optical Inspection Equipment) |
두께측정(광학) |
3D 표면측정기 |
063-219-0054 |
| 전기/전자장비 |
측정시험장비 |
다기능임피던스측정시험장비(Multi-functional Impedance Test Equipment) |
면저항 |
면저항측정기 |
063-219-0054 |
| 광학전자/영상장비 |
현미경 |
주사전자현미경(Scanning Electron Microscope) |
미세구조 및 성분분석 |
집속이온빔(FIB) |
063-219-0054 |
| 광학전자/영상장비 |
현미경 |
주사전자현미경(Scanning Electron Microscope) |
미세구조 및 성분분석 |
주사전자현미경(SEM) |
063-219-0054 |
| 광학전자/영상장비 |
현미경 |
주사탐침현미경(Scanning Probe Microscope) |
미세형상 분석 |
원자힘현미경(AFM) |
063-219-0054 |
| 화합물전처리/분석장비 |
입자분석장비 |
분산안정도분석기(Dispersion Stability Analyzer) |
분산안정성 |
분산안정성 측정기 |
063-219-0054 |
| 화합물전처리/분석장비 |
입자분석장비 |
분산안정도분석기(Dispersion Stability Analyzer) |
수명측정 |
수명측정기 |
063-219-0054 |
| 전기/전자장비 |
측정시험장비 |
광/LED/반도체/디스플레이측정시험장비(Optic/LED/Semiconductor/Display Test Equipment) |
임피던스측정 |
임피던스측정기 |
063-219-0054 |
| 전기/전자장비 |
측정시험장비 |
다기능임피던스측정시험장비(Multi-functional Impedance Test Equipment) |
입도 분석 |
입도분석기 |
063-219-0054 |
