| 물리적 측정장비 |
표면특성측정장비 |
비표면적/공극도측정장비(Specific Surface Area/Porosity) |
비표면적 |
비표면적분석기(BET) |
042-366-1500 |
| 전기/전자장비 |
측정시험장비 |
다기능임피던스측정시험장비(Multi-functional Impedance Test Equipment) |
접촉식 면저항 |
면저항측정기 |
042-366-1500 |
| 화합물전처리/분석장비 |
입자분석장비 |
제타전위측정기(Zeta Potential Analyzer) |
크기 및 형상 |
입도분석기 |
042-366-1500 |
| 광학전자/영상장비 |
현미경 |
주사전자현미경(Scanning Electron Microscope) |
크기 및 형상 |
주사전자현미경(SEM) |
042-366-1500 |
| 광학전자/영상장비 |
현미경 |
투과전자현미경(Transmission Electron Microscope) |
크기 및 형상 |
투과전자현미경(TEM) |
042-366-1500 |
| 광학전자/영상장비 |
현미경 |
투과전자현미경(Transmission Electron Microscope) |
크기 및 형상 |
투과전자현미경(TEM) |
042-366-1500 |
| 광학전자/영상장비 |
현미경 |
주사탐침현미경(Scanning Probe Microscope) |
크기 및 형상 |
원자힘현미경(AFM) |
042-366-1500 |
| 화합물전처리/분석장비 |
입자분석장비 |
제타전위측정기(Zeta Potential Analyzer) |
표면제타전위 |
입도분석기 |
042-366-1500 |
| 화합물전처리/분석장비 |
분광분석장비 |
X-선광전자분광기(X-ray Photoelectron Spectroscopy, XPS) |
표면조성 |
X-선광전자분광기(XPS) |
042-366-1500 |
| 화합물전처리/분석장비 |
질량분석장비 |
열중량 질량분석기(Thermogravimetric Mass Spectrometer) |
Depth profiling |
고분해능 글로우방전 질량분석기(GDS) |
053-602-1860 |
