| 광학전자/영상장비 |
현미경 |
주사전자현미경(Scanning Electron Microscope) |
크기 및 크기분포 |
주사전자현미경(SEM) |
062-715-5236 |
| 광학전자/영상장비 |
현미경 |
투과전자현미경(Transmission Electron Microscope) |
크기 및 크기분포 |
투과전자현미경(TEM) |
062-715-5236 |
| 광학전자/영상장비 |
현미경 |
주사탐침현미경(Scanning Probe Microscope) |
크기 및 크기분포 |
주사탐침현미경(AFM) |
062-715-5236 |
| 광학전자/영상장비 |
현미경 |
주사탐침현미경(Scanning Probe Microscope) |
크기 및 크기분포 |
주사탐침현미경(AFM) |
062-715-5236 |
| 화합물전처리/분석장비 |
입자분석장비 |
제타전위측정기(Zeta Potential Analyzer) |
크기 및 크기분포 |
나노입도분석기(DLS) |
062-715-5236 |
| 화합물전처리/분석장비 |
분광분석장비 |
자외/가시광/적외선분광광도계(Ultraviolet-Visible Near InfraRed Spectrophoto meter) |
크기 및 크기분포 |
유도결합플라즈마질량분광기(ICP-MS) |
062-715-5236 |
| 광학전자/영상장비 |
현미경 |
주사전자현미경(Scanning Electron Microscope) |
표면구조 |
집속이온빔(FIB) |
062-715-5236 |
| 화합물전처리/분석장비 |
분광분석장비 |
X-선광전자분광기(X-ray Photoelectron Spectroscopy, XPS) |
표면구조 |
X-선광전자분광기(XPS) |
062-715-5236 |
| 화합물전처리/분석장비 |
분광분석장비 |
푸리에변환적외선분광기(Fourier-Transform Infrared Spectrometer) |
표면구조 |
푸리에변환적외선분광기(FTIR) |
062-715-5236 |
| 화합물전처리/분석장비 |
분광분석장비 |
라만분광기(Raman Spectrometer) |
표면구조 |
라만분광기 |
062-715-5236 |
