| 화합물전처리/분석장비 |
질량분석장비 |
액체크로마토그래피질량분석기(Liquid Chromatography-Mass Spectrometer) |
표면구조 |
액체크로마토그래프/질량분석검출기(LC-MS/MC) |
062-715-5236 |
| 화합물전처리/분석장비 |
질량분석장비 |
액체크로마토그래피질량분석기(Liquid Chromatography-Mass Spectrometer) |
표면구조 |
고성능 액체크로마토그래피 시간비행 질량분석기(Q-ToF-LC/MS) |
062-715-5236 |
| 화합물전처리/분석장비 |
입자분석장비 |
제타전위측정기(Zeta Potential Analyzer) |
표면전하 |
제타전위측정기 |
062-715-5236 |
| 화합물전처리/분석장비 |
분광분석장비 |
푸리에변환적외선분광기(Fourier-Transform Infrared Spectrometer) |
결정구조,다층박막특성 |
고분해능 X-선회절분석기(HR-XRD) |
080-9988-114,
062-600-6502 |
| 광학전자/영상장비 |
현미경 |
주사전자현미경(Scanning Electron Microscope) |
구조,화학적측정 |
SEM
(주사전자현미경) |
080-9988-114,
062-600-6502 |
| 광학전자/영상장비 |
현미경 |
투과전자현미경(Transmission Electron Microscope) |
구조,화학적측정 |
TEM
(투과전자현미경) |
080-9988-114,
062-600-6502 |
| 광학전자/영상장비 |
현미경 |
주사전자현미경(Scanning Electron Microscope) |
구조,화학적측정 |
집속이온빔(FIB) |
080-9988-114,
062-600-6502 |
| 기계가공/시험장비 |
반도체장비 |
가공/리페어/절단장비(Grinding/Repair/Cutting Equipment ) |
물리적가공측정 |
Laser repair system |
080-9988-114,
062-600-6502 |
| 물리적 측정장비 |
길이/ 위치측정장비 |
위치측정장비(Position Measurement Equipment) |
표면형상측정기(Surface Profiler) |
표면형상측정기 |
080-9988-114,
062-600-6502 |
| 광학전자/영상장비 |
현미경 |
주사탐침현미경(Scanning Probe Microscope) |
미세구조 분석 |
원자힘현미경(AFM) |
080-9988-114,
062-600-6502 |
