| 물리적 측정장비 |
길이/ 위치측정장비 |
위치측정장비(Position Measurement Equipment) |
두께 측정 |
표면단차측정기(Alpha-step) |
080-9988-114,
062-600-6502 |
| 전기/전자장비 |
측정시험장비 |
전압/전류/전력측정시험장비(Voltage/Current/Power Test Equipment) |
수분투습도 측정 |
투습도시험기(WVTR) |
080-9988-114,
062-600-6502 |
| 광학전자/영상장비 |
광파발생/측정장비 |
타원계(Ellipsometer) |
분광특성측정 |
타원분광측정장치(Ellipsometer) |
080-9988-114,
062-600-6502 |
| 물리적 측정장비 |
힘/토크/압력/진공측정장비 |
달리 분류되지 않는 힘/토크/압력/진공측정장비 |
스트레스측정 |
스트레스측정시스템 |
080-9988-114,
062-600-6502 |
| 기계가공/시험장비 |
반도체장비 |
프로브스테이션(Probe Station) |
전기특성 |
Probe Station |
080-9988-114,
062-600-6502 |
| 광학전자/영상장비 |
현미경 |
주사전자현미경(Scanning Electron Microscope) |
금속피막 두께 측정 |
주사전자현미경(SEM) |
054-279-0203 |
| 광학전자/영상장비 |
현미경 |
투과전자현미경(Transmission Electron Microscope) |
금속피막 두께 측정 |
투과전자현미경(TEM) |
054-279-0203 |
| 화합물전처리/분석장비 |
분광분석장비 |
자외/가시광분광광도계(Ultraviolet-Visible Spectrophotometer) |
투과율 측정 |
자외/가시광분광광도계(UV/Vis) |
054-279-0203 |
| 광학전자/영상장비 |
현미경 |
주사전자현미경(Scanning Electron Microscope) |
형상 |
주사전자현미경(SEM) |
054-279-0203 |
| 광학전자/영상장비 |
현미경 |
투과전자현미경(Transmission Electron Microscope) |
형상 |
투과전자현미경(TEM) |
054-279-0203 |
